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Análisis y diseño de sistemas por Kendall, Kenneth E. ; Kendall, Julie E. Edición: 8ª ed.Tipo de material:  Texto Idioma: Español Detalles de publicación: México : Pearson, 2011Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (5). Ítems disponibles para referencia: Bibliotecas de la Sede Central No esta disponible (1). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 003 K33an.
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Análisis y diseño de sistemas de información por Whitten, Jeffrey L. ; Bentley, Lonnie D. ; Barlow, Victor M. Edición: 3ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: Madrid : McGraw-Hill, 1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 003 W624a.
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Análisis y diseño de sistemas de información por Whitten, Jeffrey L. ; Bentley, Lonnie D. ; Barlow, Victor M. Edición: 3ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: McGraw-Hill, 2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 003 W624a.
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Análisis y evaluación de negocios mediante estados financieros por Palepu, Krishna G. ; Healy, Paul M. ; Bernard, Victor L. Edición: 2ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: Paraninfo, 2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Ubicación(es): Biblioteca de Administración y Negocios. Signatura topográfica: 657.3 P156a.
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Auditoria en informática por Echenique García, José Antonio. Edición: 2ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: México : McGraw-Hill, 2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Prestado (1). Ubicación(es): Biblioteca de Administración y Negocios. Signatura topográfica: 657.453 E18a.
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Auditoria en sistemas computacionales por Muñoz Razo, Carlos. Edición: 1ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: México : Pearson Educación, 2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Ubicación(es): Biblioteca de Administración y Negocios. Signatura topográfica: 657.453 M967a.
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Basic grammar in use por Murphy, Raymond ; Smalzer, William R. Edición: 2ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Inglés Detalles de publicación: New York : Cambridge University Press, 2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (11). Ítems disponibles para referencia: Bibliotecas de la Sede Central No esta disponible (1). Ubicación(es): Biblioteca de Idiomas. Signatura topográfica: 428 M978b.
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Cálculo con geometría analítica por Larson, Ron ; Hostetler, Robert P. ; Edwards, Bruce H. Series ; v. 1Edición: 8ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: México : McGraw-Hill, 2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (9). Ítems disponibles para referencia: Bibliotecas de la Sede Central No esta disponible (2). Prestado (2). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 517 L326c.
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Cálculo de varias variables por Larson, Ron ; Hostetler, Robert. Series ; v. 2Edición: 8ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: México : McGraw-Hill, 2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (2). Ítems disponibles para referencia: Bibliotecas de la Sede Central Not for loan_4 (1). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 517 L326c.
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Cálculo varias variables por Thomas, George B. Series ; v. 2Edición: 11ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: México : Pearson Educación, 2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (5). Ítems disponibles para referencia: Bibliotecas de la Sede Central Not for loan_4 (1). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 517 T455ca.
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