|
1.
|
Estadística matemática con aplicaciones por Wackerly, Dennis D , Mendenhall, William. Edición: 6ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: Thomson, 2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 519.53 W115e.
|
|
2.
|
Métodos multivariados aplicados al análisis de datos por Johnson, Dallas E. Edición: 1ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: México : Thomson Editores, 2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 516.53 J66m.
|
|
3.
|
Muestreo : diseño y análisis por Lohr, Sharon L. Edición: ReimpTipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: México : Thomson, 2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 519.2 L833m.
|
|
4.
|
Probabilidad y estadística para ingeniería y ciencias por DeVore, Jay L. Edición: 6ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Es Detalles de publicación: Thomson, 2005Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Ítems disponibles para referencia: Bibliotecas de la Sede Central No esta disponible (8). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 519 D498p.
|
|
5.
|
Probabilidad y estadística para ingeniería y ciencias por Devore, Jay L. Edición: 5ª ed.Tipo de material: Texto Idioma: Español Detalles de publicación: México . Thomson, 2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bibliotecas de la Sede Central (1). Ubicación(es): Biblioteca de Ingenierías y Ciencias Aplicadas. Signatura topográfica: 519 D498p.
|